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微波暗箱反射率电平分析与测量2

发布时间:2020-07-21 18:43:23 阅读: 来源:往复泵厂家

图(3)、图(4)分别表示了自由空间的入射、反射波构成的驻波和驻波曲线。显然该方法的实际物理意义是:在理想状态下,暗箱内只存在直射波,而投射到吸收材料上的电磁波能量绝大部分被吸收掉了,但当有一定的杂散波存在(如反射波、绕射波、散射波等),这些相干波束在极化相同的条件下,当两波间相位相差2nπ(n=1,2,3)时,就形成波峰,而相位差为2(n+1)π的地方,两波相抵消或部分相抵消形成波节,在圆柱形暗箱内出现许多波峰、波节而形成场结构相当复杂的空间驻波分布。因此,在静区范围内反射率电平要比其它空间内的反射率电平小很多。

5 确定小圆柱形微波暗箱反射率电平的主要方法

(1) 测量接收天线的方向图,在所需要的方位角φ上标出相应的方向图电平A1(dB)。

(2) 将天线最大辐射方向指向φ角,横向移动天线并记录此时的空间干涉波曲线,如图(5)所示:

(3) 描绘驻波曲线的包络,由包络线的极大极小值求出Δab,并求出它的平均电平A1(dB),若ED>ER,A1(dB)就是接收天线的方向图电平。如图(6):

(4) 在不同的角上,重复(2)、(3)步骤,就能求出一系列空间驻波曲线,再由驻波曲线的包络来求出Δab值,在ED>ER的情况下,由式(8)就能求出不同方向上的反射率电平。如果ED>ER,则需按下式计算反射率电平:

由于ED随天线的移动有规律的变化,ER无规律的变化,在某取向角,如果实测空间驻波曲线的平均值出现无规律变化时,就能判定ER>ED,或者在这个取向角上,假定驻波曲线的平均电平比在这个取向角上方向图的电平高,也能判定ER>ED。

6 建立小圆柱型微波暗箱的测试系统与测试步骤

(1)测试装置的建立

微波暗箱反射率电平的测试系统主要由发射信号源(69347B)、接收机(MS2667C频谱分析仪)、计算机及接收天线和测试支架组成,见框图(7)。其中信号源为发射天线输出一个微波直射信号,由频谱分析仪接收来自各方向的反射及直射信号,并由计算机读出后描绘出一个空间驻波曲线,并计算出反射率电平。天线支架用来控制测试天线的上下、左右直线移动及转角姿态的变化动作。为了能比较准确地描绘出空间行程驻波曲线,天线移动的行程距离必须大于等于两个波长。最后通过改变接收天线取向角以获得若干条驻波曲线,从而达到测试小圆柱型微波暗箱反射率电平的目的。

(2)测试过程

依据"VSWR"法的特点,我们将接收天线安装在测试支架上,使天线处于暗箱中心轴线上,并距离后壁尖劈为15cm处,分别改变天线与中心轴的夹角来进行反射率电平的测试。

(3)天线测试状态的确定

这里我们仅选择垂直极化状态进行测试,其次考虑到被测箱体的限制,在测试位置上仅选取一点,即接收天线距离后壁尖劈为15cm处,俯仰角为带通滤波器相关文章:带通滤波器设计

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